재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS)
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작성일 20-06-14 18:40
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2. TGA (ThermoGravimetric Analysis)
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
1. TG 곡선의 의미
3. 미분곡선을 이용하는 이점
2. 열안정성
(5) 주요 적용 범위
(1) 기본원리
(1) 기본원리
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
(1)X-ray 기본원리
2). Goniometer
(4) 측정(測定) 방법
(3) EDS를 이용한 원소의 정량分析
(2)Bragg’s Law
재료의 조성 측정방법
(4)XRD test(실험) 방법
재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS)
(2) EDS를 이용한 정성分析
2. X-ray의 발생
(5) 分析방법
(1) 장치 구성
1. X-선 회절의 조건은?
(1) EDS 개요
2. X선에 의한 동정법의 한계
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재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS)
1. XRD (X-ray Diffraction)
1. 분말X선회절법에 의한 동정법의 특징
10. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
순서
(3) XRF의 종류
(3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum)
4)Filter
(4) FTIR에서의 Sampling 기법
(7) advantage(장점) 과 단점
여러가지 측정 방법에 대한 원리, experiment(실험)방법, 적용범위
7. XRF (X-Ray Flourescence Spectrometry)
8. ICP-MS (Inductively Coupled Plasma)
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 감도 및 검출 한계
(1) 기본원리
(3)XRD 시스템
2. Direction of Diffracted Beam
(4) 화학적 이동 (Chemical shift)
3. ICDD card
3. DTA (Differential Temperature Analyzer)
(1) ICP-MS란?
5. AES(Auger Electron Spectroscopy)
Reference
(1) AAS원리
4. 전형적인 TG-curve
(2) 결과 分析
(2) 전자저울 종류
(4) 分析방법
(4) 적용범위
(2) XRF의 이용
재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS) 여러가지 측정 방법에 대한 원리, 실험방법, 적용범위 재료의 조성 측정방법
(1) X-선 형광이란
(5) 정량 分析 (Quantitative analysis)
재료의 조성 측정(測定) 방법
(3) FTIR의 구성
4. 응용예
2. TG 미분곡선
(3) DTA peak 해석
4. FTIR (Fourier transform infrared spectroscopy)
(1) 장치 구성
(2) AAS의 구성
1. 조성의 分析
(5) DTA의 특징
1. XRD 구성
3. 分析에 이용하는 X-ray는?
(3) 기존 장비와의 비교
(2) AES/SAM의 구조
(3) TG의 가중기법
(4) 시차온도곡선의 이해
(6) 시료 준비
레포트 > 공학,기술계열
설명
1. X-ray란?
(2) FTIR의 特性
(4) 충전효과(效果)(charging effect)
(2) 구성장치
9. AAS (atomic absorption spectroscopy)
6. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)
3. 분해reaction response속도 항수의 계산
4. 색인서(Index book)
(3) AES分析의 종류
다.
